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JFZ1單晶衍射儀

用途說明:JFZ1型單晶衍射儀是我公司最新推出的,基于全自動測試的新一代晶體定向儀,是集晶體定向測試與掃描未知晶體晶向于一體的新型設備,既滿足了晶體加工中檢測的需求,又同時可以挑選出不同晶向面的晶體。本產品從根本上解決了操作的便捷性,與傳統的測量晶向角度方式需要人員的培訓,轉變為微機控制一鍵測量的快捷操作。  

組成部分

詳細類別

參數

X 光管
(國產或者進口)

靶材類型

Cu、Fe、Co、Cr、Mo、W等靶材可選

焦點

1×10mm或0.4 ×10mm

最大輸出功率

2kW

X射線發生器
(PLC控制)

X光管電壓

10~50kV,1kV/step

X光管電流

2~50mA,1mA/step

輸出穩定度

≤0.005%(電源波動±10%)

測角儀

測角儀結構

臥式測角儀θs-θd結構(樣品豎直固定不動)

測角儀掃描半徑

標準185mm(150~285mm可調)

掃描范圍

5°~120°

掃描速度

0.006~10°/min

掃描方式

θs-θd聯動、θs或θd單動

工作方式

步進、連續、分段掃描

最小步進角度

0.0001°

測量精度

≤0.001°

2θ角重復性

0.0001°

角定位速度

1800°/min(2θ)

記錄單元

探測器類型

蓋革計數器

工作方式

計算機操作,自動控制掃描,保存數據圖形

探測器高壓

700~1100VDC連續可調
高壓穩定度優于0.005%

綜合指標

報警類型

kV或mA過高、kV或mA過低、無水報警、
過流保護、X光管超溫報警、過功率保護等

安全防護

防護系統為多重防護,關鍵位置有敷鉛或鉛玻璃防護,防止射線泄漏,防護門連鎖保護

X射線泄漏

≤0.1μSv/h(X光管最大功率,未扣除本底)

綜合穩定度

≤0.5%(40kV,40mA,連續工作14小時)

外形尺寸(主體)

mm×mm×mm(長×寬×高)

 

 

 
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